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北京金埃谱科技有限公司

比表面积测试仪,比表面积测定仪,比表面积分析仪,比表面积仪及...

网站公告
F-Sorb X400系列4站比表面积测试及介孔径分布孔容孔隙率测量仪是目前国内同类产品中唯一完全自动化,智能化的产品,连续4年国内市场销量第一,众多著名科研院所及500强企业应用案例. V-Sorb X800 Series系列全自动智能比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪是金埃谱科技自主研发的比表面积及孔径检测仪器,采用静态容量法测量原理.相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.
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纳米金属材料比表面积孔径结构分析孔容孔隙率测定仪
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产 品:浏览次数:629纳米金属材料比表面积孔径结构分析孔容孔隙率测定仪 
品 牌:GAPP-金埃谱 
单 价:面议 
最小起订量: 
供货总量:
发货期限:自买家付款之日起 天内发货
更新日期:2016-01-28  有效期至:2018-03-08 [已过期]
详细信息
纳米金属材料比表面积和孔径结构分析孔容孔隙率测定仪V-Sorb 2800P是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,采用静态容量法测量原理,众多著名科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品. 全自动纳米金属材料比表面积和孔径结构分析孔容孔隙率测定仪性能参数 比表面积和孔径分析仪测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t-plot图法外比表面积测定; 比表面积和孔径分析仪测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-400nm(孔径); 比表面积和孔径分析仪测量精度:重复性误差小于1.5%; 比表面积和孔径分析仪真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布分析的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命; 比表面积和孔径分析仪液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差; 比表面积和孔径分析仪控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命; 比表面积和孔径分析仪样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理; 比表面积和孔径分析仪压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa); 比表面积和孔径分析仪压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%); 比表面积和孔径分析仪分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.995; 比表面积和孔径分析仪极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr); 比表面积和孔径分析仪样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等; 比表面积和孔径分析仪测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr); 比表面积和孔径分析仪数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强; 比表面积和孔径分析仪数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.
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